在熔接某些特种光纤亦或是不同种光纤对熔的时候，熔接后的损耗往往不太理想，如果在熔接机的既有模式里面不能找到相对应的模式的话，就需要我们手动进行测试来找到符合自己光纤的最合适的熔接参数，下面我就来介绍一下调整参数的办法，适用于藤仓的干线熔接机60S，80S，包括最新的61S 以及62S。
注意点
注意① 切割角度需要在1°以内进行熔接。
注意② 进行熔接损耗平均值比较的时候,和平均值有15%以上差距的判断为变好或者变坏.
注意③ 需要使用新的电极棒。
注意④ 本说明书适用于包层为两端同样为125um的光纤进行熔接.
注意⑤ 以本说明书最后的测试方法来测定熔接损耗.
Step1 放电时间（Arc Time）的最优化
Step1-1. 放电1时间的设定。
(1)放电1时间→1000[ms]
(2)放电1时间→2000[ms]
(3)放电1时间→3000[ms]
(4)放电1时间→4000[ms]
(5)放电1时间→5000[ms]
注：放电时间需要维持在10000ms以下,否则可能影响光纤熔接后的强度。
在4次多项式曲线上面确定熔接损耗最低条件下的放电1时间T2 [ms]，
将其设定为放电1时间
。
Step1-2. 放电1时间的最优化。(可能的话最好使用3台机器进行)
①将放电1时间用以下方式进行设定熔接 (每种的熔接次数N=5)。
(1)放电1时间→T1[ms]
(2)放电1时间→T1×0.9[ms]
(3)放电1时间→T1×1.1[ms]
②在4次多项式曲线上面确定熔接损耗最低条件下的放电1时间T2[ms]，
将其设定为放电1时间。
Step2 较低放电功率下进行熔接
通常情况下不需要进行此步骤。
日本藤仓只在对80um光纤进行熔接参数设置的时候才会做这一步。
或者是在放电时间特别短例如1秒以下，亦或是仍然还需要降低损耗的情况下可以尝试。
将放电功率以20bit为单位下降，然后再次调整放电时间，确认是不是能够改善损耗。
放电时间或者损耗有所改善的话说明STEP2可行。
熔接损耗的优劣差别如果达不到15％的话，还是选择原有的放电功率。 (因为弱放电功率的情况下，Prefuse可能不能将光纤端面充分融化，比较容易造成熔接后的纤芯偏移)
Step3 端面间隔位置（GAP POS.）的最优化
在同种光纤熔接的情况下不需要进行。
端面间隔位置用以下的设定来进行熔接实验测试 (每种测试次数N=5)。
(1)端面间隔位置→中心 ( Step1已经得到了数据 )
(2)端面间隔位置→左-15um ＋ 测试观察结果
(3)端面间隔位置→左-30um ＋ 测试观察结果
(4)端面间隔位置→右-15um ＋ 测试观察结果
(5)端面间隔位置→右-30um ＋ 测试观察结果
选择熔接损耗最低的作为最优。
Step4. 光纤预熔时间（Prefuse Time）的最优化
一般设定为180ms.
MM光纤为 240ms （为了对应气泡的产生设置为长时间）
80um光纤为60ms
一般以上面3种情况进行选择就可以，多数情况不需要特意变更。
Step5. 重叠（Overlap）的最优化
一般设定为 10um
MM光纤为 20um （为了对应气泡预熔时间增长，相应推进量也要增加）
MM光纤之外变化基本上没有什么意义。
Step6. 聚焦（Focus）的最优化
对纤芯对准才有效。
如果不能看见纤芯的话就算变化率聚焦量也会切换为包层对准
数值的设定量在AUTO以外一般是0.25或0.3．
G．657光纤一般使用包层对准
纤芯比较小的时候，例如5um的话设置为0.3，
一般情况下设置为0.25
N=30熔接数据测试
以之前确定的最佳放电条件参数进行测试 (N=30)。
用以下图示的方法进行测试。
・需要设备
(1)Light Source：Agilent HP-8163A、HP-81654A
(2)Power Meter：Agilent HP-8163A、HP-81618A
(3)Optical Sensor：Agilent HP-81524A、81624A
(4)Integrating Sphere：Agilent HP-81002FF
・测试方法
1. 同种光纤熔接
步骤（1）
步骤（2）
步骤（3）
2.不同种光纤熔接
步骤（1）
步骤（2）
步骤（3）
